Renishaw雷尼紹 RESOLUTE UHV（超高真空）非增量式光柵
RESOLUTE UHV為超高真空應用提供非增量式光柵技術，幫助客戶提高測量效率，降低損壞風險，并增強 可靠性。
RESOLUTE UHV采用雷尼紹革命性創(chuàng)新的非增量式光柵技術，通過一個適合在低達10 -10 Torr的超高真空條件下應用的讀數頭充分發(fā)揮其技術優(yōu)勢。新的RESOLUTE UHV光柵系列的構造有利于進行殘余氣體分析 (RGA)而不會污染真空環(huán)境，非常適合性能高、半導體和科研等應用領域。
頂部測量效率顯著提高
RESOLUTE的性能優(yōu)于其他所有為UHV環(huán)境設計的非增量式光柵。RESOLUTE的分辨率達到32位（直線光柵達到1 nm），速度達到36 000轉/分（直線光柵達到100 m/s），其超凡的技術指標是光柵技術的一大新突破!
但RESOLUTE帶來的不僅僅是高速度……先進的檢測技術還兼具內在的超低電子細分誤差 (SDE) 和極低噪音（抖動）特點。
頂部結果：
速度波動穩(wěn)定性提高10倍
位置穩(wěn)定性提高10倍
可重復性提高10倍
電機產生的熱量減少
頂部降低損壞風險
RESOLUTE是一款真正的非增量式光柵，意味著開啟之后立即確定位置。
無需“開啟并晃動”
無需備用電池
立即實現(xiàn)對軸控制
快速電機換向
保持高負載
例如，這些特點意味著在斷電后仍可以確保機器人對晶片進行拾取操作。
頂部可靠性增強
RESOLUTE的中心技術消除了幾種與光柵反饋有關的很常見失效模式。每次讀數頭收到來自主控制器的請求時，RESOLUTE柵距圖像，以此確定絕dui位置。圖像包含高度冗余，而讀數頭應用復雜的交叉檢查和錯誤剔除，將定位精度保持在1 nm范圍內。這種技術意味著不會發(fā)生計數錯誤或者“丟數”情況。
此外，RESOLUTE采用獨有的內置位置校驗算法，在輸出之前主動校驗每個位置讀數，以便在任何潛在問題到達控制器之前就能及時提醒。同時它還可以監(jiān)測速度、信號狀態(tài)和溫度。
RESOLUTE使用純串行通信向控制器發(fā)送已校驗的位置信息。根據RESOLUTE使用的所有協(xié)議，應用CRC檢查，以便能夠檢測出傳輸過程中的數據損壞。
頂部直線光柵和圓光柵
RESOLUTE UHV提供一系列適合各種直線光柵和圓光柵應用的柵尺。
頂部直線光柵選項
名稱
材料
類型
精度
長度
RELA
ZeroMet
具有極低CTE的柵尺
±1 μm
1.13 m
RSLA
不銹鋼
柵尺
長度1 m時精度±1.5 μm
長度2 m時精度±2.25 μm
長度3 m時精度±3 μm
長度5 m時精度±4 μm
5 m
RTLA
不銹鋼
配合FASTRACK使用的鋼帶柵尺
±5 μm/m
10 m
RTLA-S
不銹鋼
帶自帶不干膠的鋼帶柵尺
±5 μm/m
10 m
頂部圓光柵選項：
RESA圓柵具有低轉動慣量和大通孔。尺寸從52 mm至550 mm。
REXA超高精度圓柵配用雙讀數頭使用時保證精度優(yōu)于±1角秒（在尺寸100 mm和更大的圓柵上）。尺寸從52 mm至550 mm。
Renishaw雷尼紹RESR系列圓光柵
雷尼紹RESR圓光柵具有優(yōu)越的性能。RESR刻劃精度達±0.5角秒、分辨率達0.004角秒，適用于精度要求的測量場合。
頂部RESR圓光柵
RESR圓光柵是一種是在柱面上直接刻線的一體式不銹鋼圓光柵。20 μm柵距RESR與RGH20和RGH35讀數頭兼容，而40 μm柵距RESR與RGH34和RGH40讀數頭兼容。
刻劃精度達±0.5角秒，系統(tǒng)重復性達0.004角秒
提供多種直徑和刻線數，可與一系列具有行業(yè)標準的控制器兼容（直徑從52 mm到550 mm，刻線數從4096到86 400）
具有專Li的錐面安裝方式極大地降低了安裝誤差，簡化了系統(tǒng)集成
10 mm x 10 mm小截面圓光柵
低質量與低轉動慣量的設計增強了動態(tài)性能
一體式不銹鋼圓光柵能夠抵御振動、機械和熱撞擊，以及熱負載
為了保證更高的加速度和減速度以及更快的恢復時間，還可提供轉動量極低的"B"截面圓光柵
參考零位（具有可重復的起始位置）由單獨的勵磁塊提供
20 μm柵距圓光柵與UHV兼容型RGH20F讀數頭兼容
升級為TONiC
頂部RGH20讀數頭的特性與優(yōu)點
讀數頭結構小巧，能夠提供具有行業(yè)標準的模擬和數字輸出
非接觸式設計提供高速、可靠的操作，摩擦和磨損均為零
讀數頭的LED安裝指示燈簡化了安裝過程
具有專li的光學濾波系統(tǒng)在大多數開放式光柵都不適用的條件下，仍具有優(yōu)異的信號穩(wěn)定性
REF接口提供自動增益控制 (AGC)、自動平衡控制 (ABC) 和自動偏移量控制 (AOC)，極大降低了周期誤差 (<±50 nm)
參考零位提供可重復的起始位置，而限位開關則指示軸行程的終點
可提供超高真空兼容型RGH20F版本
技術規(guī)格
讀數頭尺寸
14.8 mm x 36.0 mm x 13.5 mm (RGH20) (H x L x W)
10.5 mm x 36.0 mm x 13.5 mm (RGH20F)
9.5 mm x 15.0 mm x 15.0 mm (RGH35)
輸出（分辨率）
RS422：5 μm、1 μm、0.5 μm、0.2 μm、0.1 μm、50 nm、20 nm（RGH20F）、10 nm（RGH20F）、5 nm（RGH20F）
模擬：1 Vpp
細分
RGH20 — 內置細分電路達50 nm
RGH20F — REF接口（x4至x4 000）（可獲得從x4至x4096的二進制細分系數）
RGH35 — RGI34接口（x4至x400）
參考零位 勵磁塊上的螺栓
限位開關 單限位（RGH40與40 μm柵距RESR具有雙限位）
速度高達 2938轉/分（直徑為?52 mm時為20 μm）
間隙公差
0.8 ±0.08 mm
柵尺類型 20 μm柵距（與RGH20和RGH35兼容）和40 μm柵距（與RGH34和RGH40兼容）RESR圓光柵
真空兼容 是 — RGH20F和20 μm柵距RESR
頂部系統(tǒng)精度 — 20 μm柵距RESR與RGH20
標稱外徑 (mm)
系統(tǒng)精度（角秒）
52 5.6
57 5.1
75 3.9
100 2.9
101 2.9
103 2.8
104 2.8
115 2.5
150 1.9
200 1.4
標稱外徑 (mm)
系統(tǒng)精度（角秒）
206 1.4
209 1.4
229 1.3
255 1.1
300 1.0
350 0.8
413 0.7
417 0.7
489 0.6
550 0.5
注：系統(tǒng)誤差等于刻度誤差加上電子細分誤差 (SDE)。